什么是高低溫試驗？
高低溫試驗是用來確定產品在高溫或低溫氣候環境條件下儲存、運輸、使用的適應性的方法。114檢測試驗的嚴苛程度取決于高溫或低溫的溫度和曝露持續時間。顧名思義，就是用于高溫、低溫的可靠性試驗，所以高低溫試驗又是高溫試驗和低溫試驗的簡稱。
高低溫試驗目的是評價高低溫條件對裝備在存儲和工作期間的性能影響。高低溫試驗的試驗條件、試驗實施、試驗步驟在GJB 150.3A一2009《軍用裝備試驗室環境試驗方法高溫試驗》與GJB 150.4A—2009《軍用裝備試驗室環境試驗方法低溫試驗》中都有詳細的規定。
高低溫檢測電話：13691093503
高低溫試驗測試流程：
1、在樣品斷電的狀態下，先將溫度下降到-50°C，保持4個小時;
請勿在樣品通電的狀態下進行低溫測試，非常重要，因為通電狀態下，芯片本身就會產生+20°C以上溫度，所以，在通電狀態下，通常比較容易通過低溫測試，必須先將其“凍透”，再次通電進行測試。
2、開機，對樣品進行性能測試，對比性能與常溫相比是否正常。
3、進行老化測試，觀察是否有數據對比錯誤。
4、升溫到+90°C，保持4個小時，與低溫測試相反，升溫過程不斷電，保持芯片內部的溫度一直處于高溫狀態，4個小時后，執行2、3、4測試步驟。
5、高溫和低溫測試分別重復10次。
如果測試過程出現任何一次不能正常工作的狀態，則視為測試失敗。
高低溫試驗參考標準：
GB/T2423.1-2008試驗A：低溫試驗方法
GB/T2423.2-2008試驗B：高溫試驗方法
GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試驗方法