北京高低溫可靠性試驗機構提供GBT2423標準高低溫測試報告，高低溫試驗屬于氣候環境試驗中比較通用和普遍的檢測項目類型之一，高低溫氣候環境試驗模擬干熱和干冷大氣環境，如夏天的天熱，冬天的天冷。
高低溫環境試驗檢測咨詢彭工136-9109-3503。
高低溫環境試驗分為高溫工作、低溫工作、低溫貯存、高溫貯存測試類型。
實驗室具備從0.2m3至16m3的不同大小尺寸的高低溫溫度試驗系統，具備獨立的搭接樣品的空間，試驗箱一側均具備出線端子，可以引出電源線或信號線進行產品的工作操作試驗。
高低溫測試試驗是用來確認產品在溫濕度氣候環境條件下儲存、運輸、使用的適應性。
高低溫測試試驗的嚴苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續時間。
高低溫High and low temperature testing試驗方法：
預處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩定。
初步檢測：將測試樣品與標準要求進行比較，滿足要求后直接放入高低溫試驗箱。
樣品斷電時，試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內，試驗箱（室）內溫度應降至-50℃，保持4小時；不要在樣品通電狀態下進行低溫測試，這一步非常重要，因為芯片本身在通電狀態下會產生20℃因此，在通電狀態下，通常更容易通過低溫試驗，必須先凍透，再通電試驗。
在低溫階段結束后5min將試驗樣品轉換為已調整的樣品90℃保持在高溫試驗箱（室）內4h或者直到測試樣品達到溫度穩定，與低溫測試相反，加熱過程不斷電，芯片內部溫度保持高溫，4小時后執行A、B測試步驟。
進行老化測試，觀察是否存在數據對比錯誤。
高溫和低溫試驗分別重復10次。
重復上述實驗方法，以完成三個循環。根據樣品的大小和空間的大小，時間可能略有誤差。
恢復：試驗樣品從試驗箱中取出后，應在正常試驗大氣條件下恢復，直至試驗樣品達到溫度穩定。
后檢測：根據標準中的損傷程度等方法評估檢測結果。
實驗室按照CNAS授權檢測范圍基礎標準GB/T 2423.1-2008《電工電子產品環境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫》 和 GB/T 2423.2-2008《電工電子產品環境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B：高溫》標準進行高低溫工作、高低溫貯存、高低溫極限、干冷干熱、溫度變化、高溫老化、高溫壽命、高低溫耐受性試驗技術服務，出具帶有CNAS,CMA印章的第三方檢測報告。