硅片測厚儀(HS-WTT)
適用于量程范圍內的硅片等各種材料的厚度測量。
特征
液晶顯示
接觸式測量
手動測量模式
數據實時顯示
具有輸出接口，可選配適配器實現232接口功能
技術指標
測量范圍：0～12.7mm
分辨率：0.001mm
外形尺寸：300mm（L）×200（B）×340mm（H）
凈重：20kg
標準
GB/T 1876-2007
典型用戶江蘇，浙江，廣東，湖南，內蒙古，河南，河北，韓國，日本，新加坡等地的國內外客戶。
硅片厚度測試儀
2026-05-01 10:00 3625次瀏覽
價 格：
面議
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