產(chǎn)品介紹:
Helios-PL光致發(fā)光測試系統(tǒng)能夠對多種太陽能電池少子壽命進行快速二維分析，能夠準確的測量和計算出電池的缺陷分布及密度，同時準確反饋結果以很好的改進電池的生產(chǎn)工藝。
產(chǎn)品特點：
適用幾乎所有類型太陽能電池：
單晶硅片及電池/多晶硅片及電池/薄膜電池/化合物電池
完整的檢測系統(tǒng)：
少子壽命掃描/串聯(lián)電阻掃描/硅片分類/隱裂/暗條件I-V曲線/光照條件I-V曲線
速度快，每片測試時間小于1秒
精度高，能實時找到每個致少子壽命降低的缺陷
可以監(jiān)控和優(yōu)化關鍵工藝，包括擴散、去磷硅玻璃等等
可以在線和離線分析
功能強大的分析軟件，可以分析幾乎所有的缺陷
先投入先產(chǎn)出，投入產(chǎn)出比遠高于行業(yè)的1：2
革命性的產(chǎn)品，未來的趨勢所在
技術參數(shù)：
銦砷鎵傳感器：900-1500nm
測試尺寸：23mm*23mm~200mm*200mm
像素：752×480pixel
尺寸：2m×2m*2m 重量：150kg
每片測試時間<1s
典型客戶:
美國，歐洲，亞洲及國內(nèi)太陽能及半導體客戶。